高温四探针测试仪的主要功能特点介绍

 

高温四探针测试仪广泛用于碳系导电材料、 金属系导电材料、 金属氧化物系导电材料、结 构型高分子导电材料、复合导电材料等材料的电阻率测量。 主要有生产企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜的方块电阻、电阻率和电导率数据。

  

高温四探针测试仪功能特点：

1、采用双电测组合测量模式，不用进行系数修正；

2、可以测量高温、真空、气氛条件下薄膜方块电阻和薄层电阻率；

3、可以分析方块电阻和电阻率随温度变化的曲线；

4、可以自动调节施加在样品的测试电压，以防样品击穿；

5、可以与美国keithley2400数字源表配套测量半导体材料；

6、可以通过USB传输数据，数据格式是Excel格式。