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高低温环境试验设备

高低温烘箱小型探针台高低温冷热台

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HCP650-PM华测半导体材料封装高低温冷热台

更新时间：2024-12-12

型号：HCP650-PM

浏览量：3970

华测半导体材料封装高低温冷热台防止高温氧化负温结霜，高低温冷热台是一款温度范围-190C~600C的温控探针台。使用时还可对样品气氛进行控制。这样既可以保证，即使在极低温度下，腔体也不产生结霜影响实验，又可以防止样品发生氧化。
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HC9023绝缘材料电阻评价平台测试设备/自主研发

更新时间：2024-12-12

型号：HC9023

浏览量：681

绝缘材料电阻评价平台测试设备/自主研发运用平行板法设计原理测量。利用特殊的电阻测试系统，重复性与稳定性好，提升了夹具的抗干扰能力，同时大大提高精确度,可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。
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Huace-6 中端探针台

更新时间：2024-12-12

型号：

浏览量：1478

Huace-6 中端探针台可兼容高倍率金相显微镜，可微调移动；可升级做射频，大电流方面的测试和激光修复应用
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Huace-4S小型探针台

更新时间：2024-12-12

型号：

浏览量：1326

Huace-4S小型探针台最大可用于6英寸以内样品测试；可满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等。
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Huace-4简易探针台

更新时间：2024-12-12

型号：Huace-4

浏览量：1284

Huace-4系列简易探针台可满足I-V/C-V，PIV测试，光电测试等；外形轻盈，操作方便，价格实惠；
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华测测试仪器 HCMP手动探针台

更新时间：2024-12-12

型号：

浏览量：2893

华测测试仪器 HCMP手动探针台是一款专门用于材料电学表征和测量的微型桌面型电学测量台，主要用于介电、压电、铁电、热释电、光电等材料的电学表征和测量，还可以在真空、气氛环境下对材料进行电学测量评估，是实验室测量薄膜材料电学材料常用工具，广泛用于高校、科研、航天航空、军工院所等领域。
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半导体参数测试仪与MM探针台/系统集成

更新时间：2023-08-28

型号：

浏览量：3255

半导体参数测试仪与MM探针台/系统集成支持二极管、三极管、MOS管等半导体器件以及材料的直流电流-电压（I-V）测量，准静态和中频电容-电压（C-V）测量，时域测量等。
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